XPS of GR2M
- The activities of ISO-G-Scope are presented. The influence of the sample preparation and the results of XPS/HAXPES measurements are discussed.
Autor*innen: | Jörg RadnikORCiD |
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Koautor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, B.P. Reed, A. Pollard, C. Clifford, Giovanni Chemello |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Graphene related materials; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Sample preparation; X-ray photoelectron spectroscopy |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Graphene Workshop @ ISO TC 229 Meeting |
Veranstaltungsort: | Teddington, UK |
Beginndatum der Veranstaltung: | 16.11.2022 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 30.11.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |