Analysis of a certified copper alloy with Micro-XRF on SEM
- Copper alloys have found widespread application in various fields. The elemental composition determines the properties of the alloys and consequently their application. Therefore, knowing the composition of a copper alloy is very important. Metrological institutes like the BAM (German Federal Institute for Materials Research and Testing) offer reference materials that can be used to prove the accuracy of the applied analysis method. The aim of this application note is to demonstrate how Micro-X-ray fluorescence spectroscopy (Micro-XRF) expediently supplements the analysis of copper alloys by using Bruker’s micro-focus X-ray source XTrace attached to a scanning electron microscope (SEM) and operating with an energy dispersive spectrometer.
Autor*innen: | B. Hansen, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Sonstiges |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
Verlag: | Bruker Nano GmbH |
Verlagsort: | Berlin |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 4 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Copper alloy; SEM/EDX; XRF; µ-XRF |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
URL: | https://www.bruker.com/fileadmin/user_upload/8-PDF-Docs/X-rayDiffraction_ElementalAnalysis/Microanalysis_EBSD/LabReports/App_mxrf_sem_03_analysis_Cu_alloy_lores.pdf |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 12.04.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |