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Aktuelle Normungsaktivitäten in der industriellen Durchstrahlungsprüfung

  • Neue Normen bei DIN, CEN ISO ASTM und IIW für die industrielle Durchstrahlungsprüfung mit Film und digitalen Detektoren. Stand der Technik und neue Entwicklungen

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Autor*innen:Uwe ZscherpelORCiD
Koautor*innen:Uwe Ewert
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Aktuelle Normentwicklung; Schweißnahtprüfung
Computed radiography (CR); Digital Detector Array (DDA); Digital radiography; Image evaluation; Tangential radiography; Wall thickness measurement
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:Radiographie-Forum von Baker Hughes
Veranstaltungsort:Ahrensburg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:20.06.2018
Enddatum der Veranstaltung:21.06.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:11.02.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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