Measurement of Lateral Size of Graphene Oxide Flakes by SEM - An Update of the VAMAS TWA 41 Project P13
- The progress of the VAMAS interlaboratory comparison Project P13 "Lateral size of graphene oxide flakes by SEM" within the Technical Working Area 41 "Graphene and Related 2D Materials" is presented. The challenges at sample preparation on substrates for accurate measurement and image analysis as well as two different analysis approaches, containing exact guidance how to measure the main descriptors for the lateral size measurement of the imaged graphene oxide flakes with Scanning Electron Microscopy are highlighted. The implementation of the results into the corresponding ISO technical specification AWI/TS 23879 is also discussed and planned, in relation with the AFM part.
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Koautor*innen: | Giovanni Chemello, Jörg RadnikORCiD |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2023 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Graphene oxide flakes; ISO/TC 229 Nanotechnologies; Interlaboratory comparison; SEM; VAMAS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | The 32nd ISO/TC 229 IEC/TC 113 JWG2 General Meeting |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 06.11.2023 |
Enddatum der Veranstaltung: | 10.11.2023 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 14.11.2023 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |