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Etalon effects in THz film measurements

  • Etalon effects in THz transmittance spectra, either taken in time- domain or frequency-domain, often hamper or even hinder the interpretation of film properties. In this paper we discuss the transferability and applicability of spectroscopic methods typically employed in the near and mid infrared spectral range to eliminate the fringes in the transmittance spectra in the THz spectral range.

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Autor*innen:U. Schade, L. Puskar, E. Ritter, Jörg Beckmann
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):2020 45th international conference on infrared, millimeter, and terahertz waves (IRMMW-THz) - Proceedings
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
Verlag:IEEE
Verlagsort:Buffalo, NY
Aufsatznummer:9370451
Erste Seite:1
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Etalon effects; THz radiation; Total transmittance reflection technique
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Veranstaltungsort:Buffalo, NY, USA
Beginndatum der Veranstaltung:08.11.2020
Enddatum der Veranstaltung:13.11.2020
DOI:10.1109/IRMMW-THz46771.2020.9370451
ISSN:2162-2035
ISSN:2162-2027
ISBN:978-1-7281-6620-9
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/56945
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:06.02.2023
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:06.02.2023
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