Etalon effects in THz film measurements
- Etalon features in transmittance spectra of films arise due to the coherent superposition of waves caused by reflections multiple times at the inner film boundaries. The fringe maxima occur at i𝜆 = 2nd cos 𝜑 with i - being an integer, 𝜆 - the wavelength, d - the film thickness, 𝜑 - the angle of incidence in respect to the film normal and n - the refractive index of the film. It is obvious that such features can hinder the interpretation of absorption bands when fringe amplitude and period are in the same range as the expected bands. This poster discusses the suitability of two optical methods for the THz spectral range applied to Fourier Transform Spectroscopy.
Autor*innen: | U. Schade |
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Koautor*innen: | L. Puskar, E. Ritter, Jörg Beckmann |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | THz radiation; Total transmittance reflection technique |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | 2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) |
Veranstaltungsort: | Buffalo, NY, USA |
Beginndatum der Veranstaltung: | 08.11.2020 |
Enddatum der Veranstaltung: | 13.11.2020 |
Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/56943 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 06.02.2023 |
Referierte Publikation: | Nein |