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Etalon effects in THz film measurements

  • Etalon features in transmittance spectra of films arise due to the coherent superposition of waves caused by reflections multiple times at the inner film boundaries. The fringe maxima occur at i𝜆 = 2nd cos 𝜑 with i - being an integer, 𝜆 - the wavelength, d - the film thickness, 𝜑 - the angle of incidence in respect to the film normal and n - the refractive index of the film. It is obvious that such features can hinder the interpretation of absorption bands when fringe amplitude and period are in the same range as the expected bands. This poster discusses the suitability of two optical methods for the THz spectral range applied to Fourier Transform Spectroscopy.

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Autor*innen:U. Schade
Koautor*innen:L. Puskar, E. Ritter, Jörg Beckmann
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:THz radiation; Total transmittance reflection technique
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Veranstaltungsort:Buffalo, NY, USA
Beginndatum der Veranstaltung:08.11.2020
Enddatum der Veranstaltung:13.11.2020
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/56943
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:06.02.2023
Referierte Publikation:Nein
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