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To see and not to see - Möglichkeiten und Grenzen der Schadensanalyse mit CT an Kompositmaterialien

  • Anhand von drei Beispielen (Datenfusion an CFK; Machine Learning an Metall-Matrix-Kompositen sowie Refraktion an CFK) wird gezeigt, wie die BAM mit neuen Analysemethoden mehr Informationen aus CT-Datensätzen extrahieren kann, sowie mit der Refraktion eine Analysemethode besitzt, die in Fällen eingesetzt werden kann, bei denen klassische Durchstrahlungsmethoden kein Ergebnis liefern.

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Autor*innen:Alexander Ulbricht
Koautor*innen:Fabien Léonard, Sergei Evsevleev, Andreas Kupsch, Bernd R. Müller, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Computertomographie; Datenfusion; Röntgenrefraktion; Synchrotron
Computed tomography; Data Fusion; Machine Learning
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Degradation von Werkstoffen
Material / Nano
Veranstaltung:InnoTesting 2020
Veranstaltungsort:Wildau, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:27.02.2020
Enddatum der Veranstaltung:28.02.2020
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.03.2020
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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