S. Becker, Jörg Beckmann, O. Cojocari, V. Feige, B. Fischer, F. Friederich, B. Globisch, G. Hechtfischer, K. Hens, H.-W. Hübers, J. Jelonnek, J. Jonuscheit, A. Keil, T. Kleine-Ostmann, M. Mayr, D. Nüßler, M. Peichl, O. Peters, J. Schür, T. Sprenger, A. Steiger, S. van Frank, N. Vieweg, R. Wilk
- Diese Richtlinie definiert Kenngrößen und Messverfahren, um Terahertzsysteme für die Zeitbereichsspektroskopie (TDS)zu spezifizieren. So können Hersteller ihre Systeme übereinstimmend beschreiben und Anwender einfach Systeme vergleichen. Systeme für die Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie sind aktive Systeme und nutzen verschiedene Techniken sowohl zur Erzeugung als auch zur zeitaufgelösten Messung von breitbandigen Terahertzimpulsen. Die dazugehörigen Terahertzspektren und -Phasen werden nach einer zeitlichen Abtastung über eine Fourier-Transformation berechnet. In dieser Richtlinie wird ein Überblick über die Funktionsweisen von Zeitbereichsspektrometern gegeben, die eingesetzten Messverfahren näher erläutert sowie die benötigten Begriffe und Kenngrößen definiert. Die Richtlinie konzentriert sich dabei auf Systeme, die auf sogenannten Abtastmessverfahren (Sampling-Messverfahren) basieren.
MetadatenAutor*innen: | S. Becker, Jörg Beckmann, O. Cojocari, V. Feige, B. Fischer, F. Friederich, B. Globisch, G. Hechtfischer, K. Hens, H.-W. Hübers, J. Jelonnek, J. Jonuscheit, A. Keil, T. Kleine-Ostmann, M. Mayr, D. Nüßler, M. Peichl, O. Peters, J. Schür, T. Sprenger, A. Steiger, S. van Frank, N. Vieweg, R. Wilk |
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Dokumenttyp: | Sonstiges |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | VDI/VDE-Richtlinie |
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Auflage: | Entwurf - Oktober 2020 |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
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Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
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| 8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere |
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Verlag: | VDI-Verlag |
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Verlagsort: | Düsseldorf |
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Jahrgang/Band: | VDI/VDE 5590 Blatt 2 |
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Erste Seite: | 1 |
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Letzte Seite: | 22 |
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DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
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Freie Schlagwörter: | TDS-Systeme |
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Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
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URL: | https://www.vdi.de/5590 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 06.01.2021 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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