Sequential tests of HTLS conductors
- Mechanical and electrical sequential tests of high temperature low sag (HTLS) conductors and accessories to be performed at the BAM laboratories are presented.
Autor*innen: | Dominik Stengel |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Angewandte Physik |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurbau | |
Freie Schlagwörter: | High temperature low sag (HTLS) conductors; Mechanical tests |
Veranstaltung: | BestPaths Subtask 6.1 HTLS Workshop & Meeting |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 01.06.2016 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 24.11.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |