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Sequential tests of HTLS conductors

  • Mechanical and electrical sequential tests of high temperature low sag (HTLS) conductors and accessories to be performed at the BAM laboratories are presented.

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Metadaten
Autoren/innen:Dominik Stengel
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Organisationseinheit der BAM:7 Bauwerkssicherheit
7 Bauwerkssicherheit / 7.2 Ingenieurbau
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Angewandte Physik
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurbau
Freie Schlagwörter:High temperature low sag (HTLS) conductors; Mechanical tests
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Energie
Infrastruktur
Infrastruktur / Sicherheit und Lebensdauer von Bauwerken
Veranstaltung:BestPaths Subtask 6.1 HTLS Workshop & Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:01.06.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:24.11.2016
Referierte Publikation:Nein