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STEM in SEM vs SE InLens type SEM as a Reliable Analytical Pair Tool for Measurement of Nanoparticle Size and Shape Distribution

  • In this lecture, following points are addressed: – Advantages of correlative analysis in electron microscopy – Measurement principle of the different electron microscopy modes used – Presentation of the nanomaterials used for this study – Role of sample preparation – Sequence kV variation with InLens & transmission detection of the same field-of-view – Conclusive remarks including Monte Carlo simulations

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  • Hodoroaba_TSEM_SEM for NPs MaM2024.pdf
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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Weitere Person:Christoph Salzmann, Paul Mrkwitschka, F. Pellegrino
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Correlative analysis; Electron microscopy; Nanoparticles; Particle size distribution; SEM; STEM-in-SEM; Titanium dioxide
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:Microscopy and Microanalysis 2024
Veranstaltungsort:Cleveland, OH, USA
Beginndatum der Veranstaltung:28.07.2024
Enddatum der Veranstaltung:01.08.2024
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:14.08.2024
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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