STEM in SEM vs SE InLens type SEM as a Reliable Analytical Pair Tool for Measurement of Nanoparticle Size and Shape Distribution
- In this lecture, following points are addressed: – Advantages of correlative analysis in electron microscopy – Measurement principle of the different electron microscopy modes used – Presentation of the nanomaterials used for this study – Role of sample preparation – Sequence kV variation with InLens & transmission detection of the same field-of-view – Conclusive remarks including Monte Carlo simulations
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Weitere Person: | Christoph Salzmann, Paul Mrkwitschka, F. Pellegrino |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Correlative analysis; Electron microscopy; Nanoparticles; Particle size distribution; SEM; STEM-in-SEM; Titanium dioxide |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Microscopy and Microanalysis 2024 |
Veranstaltungsort: | Cleveland, OH, USA |
Beginndatum der Veranstaltung: | 28.07.2024 |
Enddatum der Veranstaltung: | 01.08.2024 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 14.08.2024 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |