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Critical evaluation of fast and highly resolved elemental distribution in single cells using LA-ICP-SFMS

  • The analytical potential of a nanosecond laser ablation coupled plasma mass spectrometer (ns-LA-ICP-SFMS)system is investigated for fast and highly spatially resolved (~µm) elemental distribution within single cells. The size, morphology and overlapping of laser-induced craters has been investigated with Atomic Force Microscopy (AFM).

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Autor*innen:J. Pisonero, D. Bouzas-Ramos, Heike Traub, Brunero CappellaORCiD, C. Álvarez-Llamas, Silke RichterORCiD, J. C. Mayo, J. M. Costa-Fernandez, N. Bordel, Norbert JakubowskiORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of Analytical Atomic Spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:9 Komponentensicherheit
9 Komponentensicherheit / 9.5 Tribologie und Verschleißschutz
Verlag:RSC
Jahrgang/Band:34
Ausgabe/Heft:4
Erste Seite:655
Letzte Seite:663
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Atomic Force Microscopy; Elemental Distribution; Laser Ablation
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
DOI:10.1039/c8ja00096d
ISSN:0267-9477
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:29.07.2019
Referierte Publikation:Nein
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