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Analysis of elemental composition and porosity of mesoporous iridium titanium mixed oxide thin films for energy application by SEM/EDS

  • Porous materials play an important role in several fields of technology, especially for energy applications like photovoltaics, electrolysis or batteries. The activity of porous films is affected by properties like porosity, film thickness, chemical composition of the material as well as the crystallinity of the framework. The complex morphology of such porous films constitutes a challenge even for modern analytical techniques and requires new approaches employing the combination/complementation of data of different analytical methods. In this contribution we characterize thin mesoporous iridium-titanium mixed oxide film properties by Electron Probe Microanalysis (EPMA) with energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) at an SEM.

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Metadaten
Autoren/innen:René Sachse, Vasile-Dan Hodoroaba, Andreas Hertwig, L. Kotil, R. Kraehnert
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.7 Oberflächenmodifizierung und -messtechnik
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY, U.S.A.
Jahrgang/Band:25
Ausgabe/Heft:S2 (August)
Erste Seite:1770
Letzte Seite:1771
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron probe microanalysis (EPMA); Iridium-titanium mixed oxides; Mesoporous thin films; NanoSIMS; Spectroscopic ellipsometry
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Materialien und Stoffe
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
DOI:https://doi.org/10.1017/S1431927619009589
ISSN:1431-9276 (Print)
ISSN:1435-8115 (Online)
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:28.08.2019
Referierte Publikation:Nein