Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 34 von 56
Zurück zur Trefferliste

Shape recognition of nanoparticles by high-resolution SEM and TSEM

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar
Metadaten
Autoren/innen:Erik Ortel
Koautoren/innen:L Pellutiè, F. Pellegrino, V. Maurino, Johannes Mielke, Bartosz Powierza, Ines Häusler, Werner Österle, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscopy & Microanalysis 2015 Meeting
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
5 Werkstofftechnik / 5.2 Experimentelle und modellbasierte Werkstoffmechanik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Mikro-ZfP
Veranstaltung:Microscopy & Microanalysis 2015 Meeting
Veranstaltungsort:Portland, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2015-08-02
Enddatum der Veranstaltung:2015-08-06
Verfügbarkeit des Volltexts:Weder Volltext-PDF noch papiergebundenes Belegexemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein