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Liaison of ISO/TC 202 Microbeam Analysis with VAMAS/TWA 37 Quantitative Microstructural Analysis

  • The progress in activities on Microbeam Analysis under VAMAS/TWA 37 is reviewed. Particularly the liaison with the new projects within the ISO technical committee TC 202 is presented and discussed with respect to the identification and launching corresponding VAMAS projects. The ongoing project "FIB sample processing for TEM" is presented in detail.

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  • 2023_Liaison_ISOTC202_with_VAMAS_TWA37.pdf
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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron microscopy; FIB; ISO/TC 202; Microbeam Analysis; Standardisation; VAMAS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:30th Meeting of ISO/TC 202 Microbeam Analysis
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:22.11.2023
Enddatum der Veranstaltung:24.11.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.12.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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