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Mechanische, topometrische und optische Charakterisierung von Schichten mit Stand der Normung

  • Der Vortrag „MECHANISCHE, TOPOMETRISCHE UND OPTISCHE CHARAKTERISIERUNG VON SCHICHTEN MIT STAND DER NORMUNG“ widmet sich unterschiedlichen Beschichtungssystemen und deren mechanischer, topometrischer und optischer Charakterisierung. Über die entsprechenden aktuellen Normen wird informiert. Es betrifft Verfahren wie die Instrumentierte Eindringprüfung (IIT), Centrifugal Adhesion Testing, Weißlichtinterferenzmikroskopie, Tastschnittverfahren und Ellipsometrie (SE).

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  • V-2019_DRESDEN_WS_14_V14_BECK_DRESDEN_FINAL_P.pdf
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Autor*innen:Uwe Beck
Koautor*innen:Michael Griepentrog, Andreas Hertwig, Stefan Hielscher-Hofinger, Matthias Weise
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.7 Materialsynthese und Design
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Centrifugal Adhesion Testing (CAT); Instrumentierte Eindringprüfung (IIT); Normung; Spektrale Ellipsometrie (SE); Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM, 3D)
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Veranstaltung:EFDS, V2019, Vakuum und Plasma
Veranstaltungsort:Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:08.10.2019
Enddatum der Veranstaltung:10.10.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.11.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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