Characterization of nanoparticles by scanning electron microscopy
- In this chapter sample preparation, image acquisition, and nanoparticle size and shape characterization methods using the scanning electron microscope (SEM) in reflective and transmitted working modes are described. These help in obtaining reliable, highly repeatable results. The best solutions vary case-by-case and depend on the raw (powdered or suspension) nanoparticle material, the required measurement uncertainty and on the performance of the SEM.
Autor*innen: | A. E. Vladár, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Persönliche Herausgeber*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Wolfgang UngerORCiD, A. G. Shard |
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Amsterdam |
Erste Seite: | 7 |
Letzte Seite: | 27 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Electron microscopy; Nanoparticles; SEM; Sample preparation; Shape; Size measurement; Threshold |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Nano | |
DOI: | 10.1016/B978-0-12-814182-3.00002-X |
ISBN: | 978-0-12-814182-3 |
Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/50284 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 15.01.2020 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 18.06.2020 |