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A method to test the performance of an energy-dispersive X-ray spectrometer (EDS)

  • A test material for routine performance evaluation of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) is presented. It consists of a synthetic, thick coating of C, Al, Mn, Cu, and Zr, in an elemental composition that provides interference-free characteristic X-ray lines of similar intensities at 10 kV scanning electron microscope voltage. The EDS energy resolution at the C-K, Mn-Lα, Cu-Lα, Al-K, Zr-Lα, and Mn-Kα lines, the calibration state of the energy scale, and the Mn-Lα/Mn-Kα intensity ratio as a measure for the low-energy detection efficiency are calculated by a dedicated software package from the 10 kV spectrum. Measurements at various input count rates and processor shaping times enable an estimation of the operation conditions for which the X-ray spectrum is not yet corrupted by pile-up events. Representative examples of EDS systems characterized with the test material and the related software are presented and discussed.

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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, M. Procop
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:20
Ausgabe/Heft:05
Erste Seite:1556
Letzte Seite:1564
Freie Schlagwörter:Energy resolution; Energy-dispersive X-ray spectrometer (EDS); Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX, XEDS); ISO 15632; Performance check; Scanning electron microscope (SEM); Test material
DOI:10.1017/S1431927614001652
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:08.10.2014
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