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Summary of ISO/TC 201 Technical Report 23173—Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Measurement of the thickness and composition of nanoparticle coatings

  • ISO Technical Report 23173 describes methods by which electron spectroscopies, including X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Auger electron spectroscopy (AES) and synchrotron techniques, can be employed to calculate the Coating thicknesses and compositions of nanoparticles. The document has been developed to review and outline the current state-of-the-art for such measurements. Such analyses of core–shell nanoparticles are common within the literature, however the methods employed are varied; the relative advantages and disadvantages of These methods, and the optimal usage of each may not be clear to the general analyst. ISO Technical Report 23173 aims to clarify the methods that are available, describe them in clear terms, exhibit examples of their use, and highlight potential issues users may face. The information provided should allow analysts of electron spectroscopy data to make clear choices regarding the appropriate analysis of electron spectroscopy data from coatedISO Technical Report 23173 describes methods by which electron spectroscopies, including X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Auger electron spectroscopy (AES) and synchrotron techniques, can be employed to calculate the Coating thicknesses and compositions of nanoparticles. The document has been developed to review and outline the current state-of-the-art for such measurements. Such analyses of core–shell nanoparticles are common within the literature, however the methods employed are varied; the relative advantages and disadvantages of These methods, and the optimal usage of each may not be clear to the general analyst. ISO Technical Report 23173 aims to clarify the methods that are available, describe them in clear terms, exhibit examples of their use, and highlight potential issues users may face. The information provided should allow analysts of electron spectroscopy data to make clear choices regarding the appropriate analysis of electron spectroscopy data from coated nanoparticle systems and provide a basis for understanding and comparing results from different methods and systems.zeige mehrzeige weniger

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Autor*innen:D. J. H. Cant, Anja MüllerORCiD, C. A. CliffordORCiD, Wolfgang UngerORCiD, A. G. ShardORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and Interface Analysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2021
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Verlag:John Wiley & Sons Ltd
Jahrgang/Band:53
Ausgabe/Heft:10
Erste Seite:893
Letzte Seite:899
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften
Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Composition; Core-shell; Electron spectroscopy; ISO 23173; Nanoparticles; Thickness; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
DOI:10.1002/sia.6987
ISSN:0142-2421
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:21.07.2021
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:22.07.2021
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