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About the reliability of EBSD measurements: Data enhancement

  • An extensive set of information about the diffracting volume is carried by EBSD patterns: the crystal lattice, the reciprocal lattice, the crystal structure, the crystal symmetry, the mean periodic number of the diffracting phase, the source point from where it has been projected (projection centre), the crystal orientation, the sample topography (local tilt), the (preparation) quality of defect density of the crystal, and possible pattern overlaps. Some of this information is used regularly in conventional EBSD analyses software while others are still waiting for a more widespread application. Despite the wealth of information available, the accuracy and precision of the data that are presently extracted from conventional EBSD patterns are often well below the actual physical limits. Using a selection of example applications, we will demonstrate the gain in angular resolution possible using relatively low-resolution patterns of approximately 20k pixels in combination with patternAn extensive set of information about the diffracting volume is carried by EBSD patterns: the crystal lattice, the reciprocal lattice, the crystal structure, the crystal symmetry, the mean periodic number of the diffracting phase, the source point from where it has been projected (projection centre), the crystal orientation, the sample topography (local tilt), the (preparation) quality of defect density of the crystal, and possible pattern overlaps. Some of this information is used regularly in conventional EBSD analyses software while others are still waiting for a more widespread application. Despite the wealth of information available, the accuracy and precision of the data that are presently extracted from conventional EBSD patterns are often well below the actual physical limits. Using a selection of example applications, we will demonstrate the gain in angular resolution possible using relatively low-resolution patterns of approximately 20k pixels in combination with pattern matching (PM) approaches. In this way, fine details in a microstructure can be revealed which would otherwise be hidden in the orientation noise.zeige mehrzeige weniger

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Autor*innen:Gert Nolze, A. Winkelmann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials Science and Engineering
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:IOP Science
Jahrgang/Band:891
Erste Seite:012018
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Disorientation; EBSD; Grain boundary; Orientation precision; Phase transformation
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
DOI:10.1088/1757-899X/891/1/012018
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-521618
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:25.02.2021
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:25.02.2021
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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