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Mapping of local lattice parameter ratios by projective Kikuchi pattern matching

  • We describe a lattice-based crystallographic approximation for the analysis of distorted crystal structures via Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in the scanning electron microscope. EBSD patterns are closely linked to local lattice parameter ratios via Kikuchi bands that indicate geometrical lattice plane projections. Based on the transformation properties of points and lines in the real projective plane, we can obtain continuous estimations of the local lattice distortion based on projectively transformed Kikuchi diffraction simulations for a reference structure. By quantitative image matching to a projective transformation model of the lattice distortion in the full solid angle of possible scattering directions, we enforce a crystallographically consistent approximation in the fitting procedure of distorted simulations to the experimentally observed diffraction patterns. As an application example, we map the locally varying tetragonality in martensite grains of steel.

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Metadaten
Autoren/innen:A. Winkelmann, Gert Nolze, G. Cios, T. Tokarski
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Physical review materials
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Verlag:American Physical Society
Verlagsort:College Park, MD
Jahrgang/Band:2
Ausgabe/Heft:12
Erste Seite:123803, 1
Letzte Seite:15
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:EBSD; Orientation refinement; Scanning electron microscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
DOI:https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.2.123803
URL:https://apps.webofknowledge.com/full_record.do?product=UA&search_mode=GeneralSearch&qid=4&SID=F6jQ74YIovvWm6LumQS&page=1&doc=1
ISSN:2475-9953
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:01.02.2019
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:01.02.2019