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Hochtemperaturlaserprofilometrie (HTLP)

  • Der Vortrag stellt die an der BAM neu entwickelte Methode der Hochtemperatur-Laserprofilometrie (HTLP) vor und illustriert Anwendungsmöglichkeieten

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Autor*innen:Ralf Müller
Koautor*innen:Ulrich Marzok
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Hochtemperaturformerkennung; Sintern
Veranstaltung:Seminar Instrumentelle Analytik, Fakultät III Prozesswissenschaften, Lehrstuhl Keramik TU Berlin
Veranstaltungsort:TU Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:17.2.2017
Enddatum der Veranstaltung:17.2.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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