Biegeversuche an siliciumbasierten Nanodrähten
- Die Bildkorrelationssoftware Veddac 6 vom Fraunhofer ENAS wurde eingesetzt, um Biegeversuche an Si-basierten Nanostrukturen im Rasterelektronenmikroskop auszuwerten. Die Auswertung basiert auf der Verarbeitung einer Sequenz hochaufgelöster REM-Bilder. Die Veddac Software eignet sich besonders gut, um große Datenmengen und Bilder mit hohen Rauschen/geringen Kontrastunterschieden zu analysieren. Aus den Versuchen konnten verlässliche Kraft-Weg-Kurven ermittelt werden. Damit stellt das gezeigte, recht simple Verfahren eine Alternative zu bereits existierenden mechanischen Prüftests an Mikro/Nano-Objekten dar.
Autor*innen: | Nicole Wollschläger |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Bildkorrelation; Mechanisches Testen; Rasterelektronenmikroskop; Silicium Nanodrähte |
Veranstaltung: | Thementag Digitale Bildkorrelation |
Veranstaltungsort: | Chemnitz, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 08.06.2016 |
Enddatum der Veranstaltung: | 08.06.2016 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 15.11.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |