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3D reconstruction and quantification of dislocation substructures from TEM stereo pairs

  • Dislocations are the carriers of plastic deformation. As such, their characterization offers important information on the properties they affect. In this contribution, a new tool is presented, which is incorporated in Amira ZIB Edition and allows for three-dimensional (3D) imaging and quantification of dislocations substructures from thick regions an electron-transparent specimen. In the tool, the dislocation segments are traced on diffraction contrast images that are obtained in the transmission electron microscope (TEM). The uncertainties related to the experimental setup and to the proposed method are discussed on the base of a tilt series.

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Autor*innen:Leonardo Agudo JácomeORCiD
Koautor*innen:K. Pöthkow, O. Paetsch, H.-C. Hege
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Diffraction contrast; Dislocation; Scanning transmission electron microscopy (STEM)
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:AVIZO / AMIRA User Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:14.11.2018
Enddatum der Veranstaltung:14.11.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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