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The determination of lattice parameters using single EBSD patterns

  • A typical electron backscatter diffraction (EBSD) pattern usually contains more than a hundred of Kikuchi poles that formed by intersecting dozens of visible Kikuchi bands. The poles correspond to zone axes in real space or lattice planes in reciprocal space. The band widths are inversely proportional to the interplanar spacings of diffracting lattice planes, and the angle formed by the beam source and two band center-lines approximately corresponds to angle between two lattice planes. However, EBSD patterns always suffer from gnomic distortions. In addition, the band width measurement has a relative error of 5-20% due to the complex profile. Thus, an EBSD pattern always provides abundant crystallographic information but disappointingly low accuracy.

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Metadaten
Autoren/innen:L. Li, M. Han, Gert Nolze
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Jahrgang/Band:22
Erste Seite:Suppl. 3, 634
Letzte Seite:635
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Electron backscatter diffraction; Lattice parameter determination
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Veranstaltung:Microscopy & MicroAnalysis 2016
Veranstaltungsort:Columbus, Ohio, USA
Beginndatum der Veranstaltung:24.07.2016
Enddatum der Veranstaltung:28.07.2016
URL:https://www.cambridge.org/core/services/aop-cambridge-core/content/view/S1431927616004025
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:12.10.2016
Referierte Publikation:Nein