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Shape recognition of nanoparticles by high-resolution SEM and TSEM

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Autoren/innen:Erik Ortel
Koautoren/innen:Johannes Mielke, Bartosz Powierza, Ines Häusler, Werner Österle, Vasile-Dan Hodoroaba, L Pellutiè, F. Pellegrino, V. Maurino
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):International summer workshop Nanoscience meets Metrology
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
5 Werkstofftechnik / 5.2 Experimentelle und modellbasierte Werkstoffmechanik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Mikro-ZfP
Veranstaltung:International summer workshop Nanoscience meets Metrology
Veranstaltungsort:Erice, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2015-07-27
Enddatum der Veranstaltung:2015-07-31
Verfügbarkeit des Volltexts:Weder Volltext-PDF noch papiergebundenes Belegexemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein