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Pattern matching approach to pseudosymmetry problems in electron backscatter diffraction

  • We demonstrate an approach to overcome Kikuchi pattern misindexing problems caused by crystallographic pseudosymmetry in electron backscatter diffraction (EBSD) measurements. Based on the quantitative comparison of experimentally measured Kikuchi patterns with dynamical electron diffraction simulations, the algorithm identifies the best-fit orientation from a set of pseudosymmetric candidates. Using measurements on framboidal pyrite (FeS2) as an example, we also show the improvement of the orientation precision using this approach.

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Metadaten
Autoren/innen:Gert Nolze, Aimo Winkelmann, A.P. Boyle
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Ultramicroscopy
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Verlag:Elsevier
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:160
Erste Seite:146
Letzte Seite:154
Freie Schlagwörter:Cross-correlation; EBSD; Hough transformation; Orientation precision; Pattern simulation; Pseudosymmetry; Pyrite
DOI:https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2015.10.010
URL:http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS&DestLinkType=FullRecord;UT=WOS:000366220300018
ISSN:0304-3991
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:23.11.2015