3D reconstruction and quantification of dislocation substructures from TEM stereo pairs
- Dislocations are the carriers of plastic deformation. As such, their characterization offers important information on the properties they affect. In this contribution, a new tool is presented, which is incorporated in Amira ZIB Edition and allows for three-dimensional (3D) imaging and quantification of dislocations substructures from thick regions an electron-transparent specimen. In the tool, the dislocation segments are traced on diffraction contrast images that are obtained in the transmission electron microscope (TEM). The uncertainties related to the experimental setup and to the proposed method are discussed on the base of a tilt series.
Autor*innen: | Leonardo Agudo JácomeORCiD |
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Koautor*innen: | K. Pöthkow, O. Paetsch, H.-C. Hege |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 5 Werkstofftechnik |
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Diffraction contrast; Dislocation; Scanning transmission electron microscopy (STEM) |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | AVIZO / AMIRA User Meeting |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 14.11.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 14.11.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |