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3D reconstruction of thin porous TiO2 nano-particle films using focused ion beam technique

  • The present talk serves the routine characterization of the porous structure of unordered anatase NP-fillings by screen printing. Therefore the Focused Ion Beam technique was used to cut a defined volume of material slice per slice of the given material. From each slice electron micrographs are recorded. The won stack of images is than further processed using binarization and segmentation to reconstruct either the mesh of particles or pores. From the calibrated length-scales in the scanning electron microscope it is possible to determine the particular volumes for pore and material.

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Metadaten
Autoren/innen:Nicole Wollschläger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Angewandte Physik
Freie Schlagwörter:3D reconstruction; DSSC; Focused ion beam; Porosity; Titanium dioxide
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Energie
Veranstaltung:International Summer School: Nanoscience meets Metrology
Veranstaltungsort:Turin, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:04.09.2016
Enddatum der Veranstaltung:09.09.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.11.2016
Referierte Publikation:Nein