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Advanced EBSD Pattern Interpretation through Iterative Post-Processing

  • Since the BSE signal depends on many factors, like the chemistry of the phase and the acceleration voltage, the size and position of the detector array is (slightly) different from phase to phase so that an (iterative) post-processing of the stored patterns is highly recommended. The derived BSE signal can be used for phase assignment in high resolution and high speed maps when EBSD fails and/or EDS (energy dispersive spectroscopy) needs too much time for a suitable and parallel signal acquisition.

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Metadaten
Autoren/innen:Gert Nolze, E. Payton, Aimo Winkelmann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Jahrgang/Band:19
Ausgabe/Heft:Suppl. 2
Erste Seite:728
Letzte Seite:729
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron backscatter diffraction; Microstructure; Phase identification; SEM
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Analytical Sciences
DOI:https://doi.org/10.1017/S1431927613005631
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:31.10.2016
Referierte Publikation:Nein