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Focused ion beam techniques beyond the ordinary - Methodological developments within ADVENT

  • This poster presents the focused ion beam preparation methodologies developed within the framework of the EU funded EURAMET project ADVENT (Advanced Energy-Saving Technology). It summarises the key breakthroughs achieved for various in situ investigation techniques, e.g. in situ experiments at the Synchrotron facility BESSY II (IR-SNOM and XRS), TEM and SMM instrumentation. The created experimental devices from diverse thin-film semiconductor materials paved the way to dynamic structural studies bearing the potential to determine nanoscale correlations between strain and electric fields and, moreover, for the fundamental development of new in situ capabilities.
  • Dieses Poster zeigt die FIB Präparationstechniquen, die im Rahmen des EU-finanzierten EURAMET-Projekts ADVENT (Advanced Energy Saving Technology) entwickelt wurden. Es fasst die wichtigsten Errungenschaften zusammen, die für verschiedene in situ Untersuchungstechniken erzielt wurden, z.B. situ-Experimente in dem Synchrotronring BESSY II (IR-SNOM und XRS), in situ TEM Experimente und für die SMM Technik. Die experimentellen Probenstrukturen, die aus verschiedenen Dünnschicht-Halbleitermaterialien erzeugt wurden, ebneten den Weg für dynamische Strukturstudien, die das Potenzial haben, nanoskalige Korrelationen zwischen Dehnung und elektrischen Feldern zu bestimmen und darüber hinaus neue in situ Messmethoden zu entwickeln.

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Autor*innen:Bernd BayerleinORCiD
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:AFM; FIB; In situ; Sample preparation; TEM
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Chemie und Prozesstechnik / Chemische Charakterisierung und Spurenanalytik
Material
Material / Degradation von Werkstoffen
Material / Nano
Veranstaltung:Final Meeting
Veranstaltungsort:Online Meeting
Beginndatum der Veranstaltung:30.06.2020
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:23.11.2020
Referierte Publikation:Nein
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