EBSD: more reliable and accurate
- The presentation discusses numerous new approaches in order to increase precision and accuracy of electrom backscatter diffraction measurements.
Autor*innen: | Gert Nolze |
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Koautor*innen: | Aimo Winkelmann, R. Hielscher, M. Han, L. Li, E. Payton |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Electron backscatter diffraction; Lattice parameter determination; Orientation mapping; Orientation noise; Orientation precision |
Veranstaltung: | 1st EBSD Workshop |
Veranstaltungsort: | Belo Horizonte, Brazil |
Beginndatum der Veranstaltung: | 17.09.2015 |
Enddatum der Veranstaltung: | 19.09.2015 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 14.10.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |