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EBSD: more reliable and accurate

  • The presentation discusses numerous new approaches in order to increase precision and accuracy of electrom backscatter diffraction measurements.

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Autor*innen:Gert Nolze
Koautor*innen:Aimo Winkelmann, R. Hielscher, M. Han, L. Li, E. Payton
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Electron backscatter diffraction; Lattice parameter determination; Orientation mapping; Orientation noise; Orientation precision
Veranstaltung:1st EBSD Workshop
Veranstaltungsort:Belo Horizonte, Brazil
Beginndatum der Veranstaltung:17.09.2015
Enddatum der Veranstaltung:19.09.2015
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:14.10.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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