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Blind lattice-parameter determination of cubic and tetragonal phases with high accuracy using a single EBSD pattern

  • The Bravais lattices and their lattice parameters are blindly determined using electron backscatter diffraction (EBSD) patterns of materials with cubic or tetragonal crystal structures. Since the geometric relationships in a single EBSD pattern are overdetermined, the relative errors of determining the lattice parameters as well as the axial ratios are confined to about 0.7 ± 0.4% and 0.07 ± 0.03%, respectively, for ideal simulated EBSD patterns. The accuracy of the crystal orientation determination reaches about 0.06 ± 0.03°. With careful manual band detection, the accuracy of determining lattice parameters from experimental patterns can be as good as from simulated patterns, although the results from simulated patterns are often better than expermental patterns, which are lower quality and contain uncertain systematic errors. The reasonably high accuracy is obtained primarily because the detection of the diffracting-plane traces and zone axes is relatively accurate. The results hereThe Bravais lattices and their lattice parameters are blindly determined using electron backscatter diffraction (EBSD) patterns of materials with cubic or tetragonal crystal structures. Since the geometric relationships in a single EBSD pattern are overdetermined, the relative errors of determining the lattice parameters as well as the axial ratios are confined to about 0.7 ± 0.4% and 0.07 ± 0.03%, respectively, for ideal simulated EBSD patterns. The accuracy of the crystal orientation determination reaches about 0.06 ± 0.03°. With careful manual band detection, the accuracy of determining lattice parameters from experimental patterns can be as good as from simulated patterns, although the results from simulated patterns are often better than expermental patterns, which are lower quality and contain uncertain systematic errors. The reasonably high accuracy is obtained primarily because the detection of the diffracting-plane traces and zone axes is relatively accurate. The results here demonstrate that the developed procedure based on the EBSD technique presents a reliable tool for crystallographic characterization of the Bravais lattices of unknown phases.zeige mehrzeige weniger

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  • Han_et_al-2018-Acta_Crystallographica_Section_A.pdf
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Autor*innen:Gert Nolze, M. Han, C. Chen, G. Zhao, L. Li, B. Yo, X. Huang, Y. Zhu
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Acta Crystallographia
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation
Verlag:International Union of Crystallography
Jahrgang/Band:74
Ausgabe/Heft:6
Erste Seite:630
Letzte Seite:639
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Bravais lattice; EBSD; Kikuchi pattern; Lattice parameters
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
DOI:10.1107/S2053273318010963
ISSN:2053-2733
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:05.11.2018
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.11.2018
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