The determination of lattice parameters using single EBSD patterns
- A typical electron backscatter diffraction (EBSD) pattern usually contains more than a hundred of Kikuchi poles that formed by intersecting dozens of visible Kikuchi bands. The poles correspond to zone axes in real space or lattice planes in reciprocal space. The band widths are inversely proportional to the interplanar spacings of diffracting lattice planes, and the angle formed by the beam source and two band center-lines approximately corresponds to angle between two lattice planes. However, EBSD patterns always suffer from gnomic distortions. In addition, the band width measurement has a relative error of 5-20% due to the complex profile. Thus, an EBSD pattern always provides abundant crystallographic information but disappointingly low accuracy.
Autor*innen: | L. Li, M. Han, Gert Nolze |
---|---|
Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and Microanalysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
Jahrgang/Band: | 22 |
Erste Seite: | Suppl. 3, 634 |
Letzte Seite: | 635 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Electron backscatter diffraction; Lattice parameter determination |
Veranstaltung: | Microscopy & MicroAnalysis 2016 |
Veranstaltungsort: | Columbus, Ohio, USA |
Beginndatum der Veranstaltung: | 24.07.2016 |
Enddatum der Veranstaltung: | 28.07.2016 |
URL: | https://www.cambridge.org/core/services/aop-cambridge-core/content/view/S1431927616004025 |
ISSN: | 1431-9276 |
ISSN: | 1435-8115 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 12.10.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |