Sub-surface microstructural analysis
- Many performance properties of devices or interacting machine parts are related to superficial layers which often show completely different or at least modified microstructures compared to the bulk materials. A quasi non-destructive technique will be described which enables us to obtain detailed information of a material's state at a certain site of interest down to a depth of 10 µm from the surface with nanometre or even atomistic resolution.
MetadatenAutor*innen: | Werner ÖsterleORCiD |
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Persönliche Herausgeber*innen: | Horst Czichos |
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Dokumenttyp: | Buchkapitel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Handbook of technical diagnostics - Fundamentals and application to structures and systems |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
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Verlag: | Springer |
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Verlagsort: | Berlin Heidelberg |
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Ausgabe/Heft: | Chapter 16 |
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Erste Seite: | 323 |
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Letzte Seite: | 337 |
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Freie Schlagwörter: | FIB-Technik; Nanocharakterisierung; Randschichtanalyse; Zielpräparation |
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DOI: | 10.1007/978-3-642-25850-3_16 |
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ISBN: | 978-3-642-25849-7 |
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ISBN: | 978-3-642-25850-3 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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