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Sub-surface microstructural analysis

  • Many performance properties of devices or interacting machine parts are related to superficial layers which often show completely different or at least modified microstructures compared to the bulk materials. A quasi non-destructive technique will be described which enables us to obtain detailed information of a material's state at a certain site of interest down to a depth of 10 µm from the surface with nanometre or even atomistic resolution.

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Metadaten
Autoren/innen:Werner ÖsterleORCiD
Persönliche Herausgeber/innen:H. Czichos
Dokumenttyp:Buchkapitel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Handbook of technical diagnostics - Fundamentals and application to structures and systems
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin Heidelberg
Ausgabe/Heft:Chapter 16
Erste Seite:323
Letzte Seite:337
Freie Schlagwörter:FIB-Technik; Nanocharakterisierung; Randschichtanalyse; Zielpräparation
DOI:https://doi.org/10.1007/978-3-642-25850-3_16
ISBN:978-3-642-25849-7
ISBN:978-3-642-25850-3
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein