Diffraction Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) as a Powerful Tool for Quantitative Dislocation Analysis
Autor*innen: | Leonardo Agudo JácomeORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Symposium "Recent prograss in transmission electron microscopy and atom probe analysis of advanced high temperatur materials" vom SFB/TR 103 |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2014 |
Veranstaltung: | Symposium "Recent prograss in transmission electron microscopy and atom probe analysis of advanced high temperatur materials" vom SFB/TR 103 |
Veranstaltungsort: | Bochum, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2014-03-06 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2014-03-07 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |