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Diffraction Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) as a Powerful Tool for Quantitative Dislocation Analysis

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Autoren/innen:Leonardo Agudo Jácome
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Symposium "Recent prograss in transmission electron microscopy and atom probe analysis of advanced high temperatur materials" vom SFB/TR 103
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Veranstaltung:Symposium "Recent prograss in transmission electron microscopy and atom probe analysis of advanced high temperatur materials" vom SFB/TR 103
Veranstaltungsort:Bochum, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2014-03-06
Enddatum der Veranstaltung:2014-03-07
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein