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Diffraction Contrast in Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) as a Powerful Tool for Quantitative Dislocation Analysis

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Autoren/innen:Leonardo Agudo Jácome
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Institutskolloquium, Institut für Materialphysik der westfälischen Wilhelms-Universität Münster
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Veranstaltung:Institutskolloquium, Institut für Materialphysik der westfälischen Wilhelms-Universität Münster
Veranstaltungsort:Münster, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2014-06-24
Enddatum der Veranstaltung:2014-06-24
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein