Constraints on the effective electron energy spectrum in backscatter Kikuchi diffraction
- Electron backscatter diffraction (EBSD) is a technique to obtain microcrystallographic information from materials by collecting large-angle Kikuchi patterns in the scanning electron microscope (SEM). An important fundamental question concerns the scattering-angle dependent electron energy distribution, which is relevant for the formation of the Kikuchi diffraction patterns. Here we review the existing experimental data and explore the effective energy spectrum that is operative in the generation of backscatter Kikuchi patterns from silicon. We use a full pattern comparison of experimental data with dynamical electron diffraction simulations. Our energy-dependent cross-correlation based pattern matching approach establishes improved constraints on the effective Kikuchi pattern energy spectrum, which is relevant for high-resolution EBSD pattern simulations and their applications.
Autor*innen: | Gert Nolze, A. Winkelmann, T. B. Britton |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physical review B |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 5 Werkstofftechnik |
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation | |
Herausgeber (Institution): | American Physical Society |
Verlag: | AIP |
Jahrgang/Band: | 99 |
Ausgabe/Heft: | 6 |
Erste Seite: | 064115-1 |
Letzte Seite: | 064115-13 |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | EBSD; Electron energy; Energy distribution; Kikuchi pattern; Simulation |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
ISSN: | 2469-9950 |
ISSN: | 2469-9969 |
Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/51907 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 29.03.2019 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 29.03.2019 |