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Kikuchi pattern analysis of noncentrosymmetric crystals

  • Different models of Kikuchi pattern formation are compared with respect to their applicability to noncentrosymmetric crystals, and the breakdown of Friedel's rule in experimental electron backscatter diffraction (EBSD) patterns is discussed. Different AIIIBV semiconductor materials are used to evaluate the resulting asymmetry of Kikuchi band profiles for polar lattice planes. By comparison with the characteristic etch pit morphology on a single-crystal surface, the polar character of the measured lattice planes can be assigned absolutely. The presented approach enables point-group-resolved orientation mapping, which goes beyond the commonly applied Laue group analysis in EBSD.

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Metadaten
Autoren/innen:Gert Nolze, C. Grosse, Aimo Winkelmann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of applied crystallography
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Organisationseinheit der BAM:5 Werkstofftechnik
5 Werkstofftechnik / 5.1 Materialographie, Fraktographie und Alterung technischer Werkstoffe
Herausgeber (Institution):International Union of Crystallography
Verlag:Blackwell
Verlagsort:Oxford
Jahrgang/Band:48
Erste Seite:1405
Letzte Seite:1419
Freie Schlagwörter:EBSD; Electron backscatter diffraction; Enantiomorphy; polarity; Friedel's rule; Kikuchi patterns; Laue groups; Pattern simulation; Point groups
DOI:https://doi.org/10.1107/S1600576715014016
URL:http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS&DestLinkType=FullRecord;UT=WOS:000362500100006
ISSN:0021-8898
ISSN:1600-5767
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:12.10.2015