• Treffer 2 von 8
Zurück zur Trefferliste

EMPIR project Metrology vs. Bad Bugs aims to provide urgently needed metrology to quantitatively measure localization and penetration of antibiotics and biocides in bacteria and biofilms

  • An overview of ongoing reference-free X-ray spectrometry, near-ambient pressure X-ray photoelectron spectroscopy and Fourier-Transform infrared micro-spectroscopy studies on the penetration of biocides/antibiotics into bacteria and biofilms is given.

Volltext Dateien herunterladen

  • bessyusermeeting_2017.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar
Metadaten
Autoren/innen:Marit Kjaervik, C. Seim
Koautoren/innen:C. Streeck, M. Wansleben, A. Hornemann, Karin Schwibbert, Wolfgang Unger, J. L. Vorng, B. Kästner, P. Dietrich, A. Thissen, B. Beckhoff
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Organisationseinheit der BAM:4 Material und Umwelt
4 Material und Umwelt / 4.1 Biologische Materialschädigung und Referenzorganismen
6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Alginate; Biofilms; FTIR; NAP-XPS; XRF
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Veranstaltung:Ninth Joint BER II and BESSY II User Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:13.12.2017
Enddatum der Veranstaltung:15.12.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.12.2017
Referierte Publikation:Nein