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Depth-dependent analysis of model biofilms by combining laboratory- and synchrotron-based X-ray photoelectron spectroscopy

  • Synchrotron XPS in the soft-X-ray regime is suitable for the detection of light elements commonly found in biological samples. Various model systems of biofilms have been developed and characterised at synchrotron- and lab-based facilities. By obtaining the chemical composition at various information depths, the vertical distribution of iodine in an artificial biofilm have been determined.

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Metadaten
Autoren/innen:Marit Kjaervik
Koautoren/innen:P. Dietrich, A. Thissen, Karin Schwibbert, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:4 Material und Umwelt
4 Material und Umwelt / 4.1 Biologische Materialschädigung und Referenzorganismen
6 Materialschutz und Oberflächentechnik
6 Materialschutz und Oberflächentechnik / 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Biofilms; HAXPES; Iodine; Synchrotron-XPS; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Analytical Sciences / Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Veranstaltung:Tenth Joint BER II and BESSY II User Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:05.12.2018
Enddatum der Veranstaltung:06.12.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:10.12.2018
Referierte Publikation:Nein