Depth-dependent analysis of model biofilms by combining laboratory- and synchrotron-based X-ray photoelectron spectroscopy
- Synchrotron XPS in the soft-X-ray regime is suitable for the detection of light elements commonly found in biological samples. Various model systems of biofilms have been developed and characterised at synchrotron- and lab-based facilities. By obtaining the chemical composition at various information depths, the vertical distribution of iodine in an artificial biofilm have been determined.
Autor*innen: | Marit Kjaervik |
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Koautor*innen: | P. Dietrich, A. Thissen, Karin Schwibbert, Wolfgang UngerORCiD |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 4 Material und Umwelt |
4 Material und Umwelt / 4.1 Biologische Materialschädigung und Referenzorganismen | |
6 Materialchemie | |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Biofilms; HAXPES; Iodine; Synchrotron-XPS; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | Tenth Joint BER II and BESSY II User Meeting |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 05.12.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 06.12.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 10.12.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |