• Treffer 2 von 2
Zurück zur Trefferliste

XPS surface analysis of bacterial samples

  • This application note presents how EnviroESCA can be used to analyze bacterial samples under near ambient pressure conditions in various states of hydration using different levels of humidity. Such investigations of bacterial cell wall surfaces in their hydrated state are essential for studying biological interfaces at work. The use of innovative near-ambient pressure (NAP-)XPS instrumentation allows the detailed analysis of irregularly-surfaced biofilms. NAP-XPS enables the surface analysis of bacterial samples in their natural hydrated state without complex sample preparation techniques such as freeze-drying or fast-freezing, which are needed for XPS analysis in ultrahigh vacuum.

Volltext Dateien herunterladen

  • XPS surface analysis of Bacillus subtilis biofilms_final.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:P. Dietrich, K. Beblo-Vranesevic, Marit Kjærvik, Wolfgang UngerORCiD, Karin Schwibbert, K. Hardie, J. Brown
Dokumenttyp:Sonstiges
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:4 Material und Umwelt
4 Material und Umwelt / 4.1 Biologische Materialschädigung und Referenzorganismen
6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Herausgeber (Institution):SPECS Surface Nano Analysis GmbH
Verlagsort:Berlin
Ausgabe/Heft:Application Note #000399
Erste Seite:1
Letzte Seite:5
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Biofilms; Near ambient pressure XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
URL:http://www.enviroai.com/uploads/1/0/2/8/102861712/xps_surface_analysis_of_bacillus_subtilis_biofilms_final.pdf
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:28.03.2018
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.