Zum Zusammenhang zwischen der Dicke dünner Metallschichten, der relativen Röntgenintensität und anderen Mikrosonden-Parametern
Autor*innen: | Daniel Schmidt, Wolfram Schwarz |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1974 |
Verlag: | Remy |
Verlagsort: | Münster, Westf. |
Jahrgang/Band: | 6 |
Erste Seite: | 55 |
Letzte Seite: | 66 |
Veranstaltung: | Gemeinsame Tagung für Elektronenmikroskopie |
Veranstaltungsort: | Lüttich, Belgien |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1973-09-03 |
Enddatum der Veranstaltung: | 1973-09-06 |
ISSN: | 0340-3815 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | ZM 54/21:1974/152 |
Bibliotheksstandort: | Pc 126 |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |