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Quality assurance in nano-scale analysis

  • Zusammenfassung Some methods of nano-scale analysis are on the threshold of being a standard method in industry and therefore quality assurance becomes important. But, at the present time, there are deficits in standardisation and validation of these methods. Therefore, we have organised method comparisons and interlaboratory comparisons to overcome these deficits. We report the results of an interlaboratory comparison in step-height determination by atomic force microscopy and the development of a reference material for laterally resolving methods of material analysis.

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Metadaten
Autor*innen:Mathias Senoner, Wolfgang UngerORCiD, Georg Reiners
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Applied physics A
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin
Jahrgang/Band:76
Ausgabe/Heft:6
Erste Seite:919
Letzte Seite:921
DOI:10.1007/s00339-002-1976-5
ISSN:0947-8396
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:04.04.2003
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