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Quality assurance in nano-scale analysis
- Zusammenfassung Some methods of nano-scale analysis are on the threshold of being a standard method in industry and therefore quality assurance becomes important. But, at the present time, there are deficits in standardisation and validation of these methods. Therefore, we have organised method comparisons and interlaboratory comparisons to overcome these deficits. We report the results of an interlaboratory comparison in step-height determination by atomic force microscopy and the development of a reference material for laterally resolving methods of material analysis.
Autor*innen: | Mathias Senoner, Wolfgang UngerORCiD, Georg Reiners |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied physics A |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Verlag: | Springer |
Verlagsort: | Berlin |
Jahrgang/Band: | 76 |
Ausgabe/Heft: | 6 |
Erste Seite: | 919 |
Letzte Seite: | 921 |
DOI: | 10.1007/s00339-002-1976-5 |
ISSN: | 0947-8396 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 04.04.2003 |