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Measuring organic layers

  • Many innovative products - from touchscreens to solar panels to pharmaceuticals – utilise multiple organic layers to create complex functionality. New techniques have been developed to remove and measure layers individually enabling improved product development and assisting with quality assurance. However, manufacturers cannot be certain of the depth of layer being removed and new reference materials for these techniques are needed to increase uptake, and remove a major barrier to innovation.

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Metadaten
Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Sonstiges
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Herausgeber (Institution):Euramet, European Metrology Research Programme
Verlagsort:Teddington
Erste Seite:1
Letzte Seite:2
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Organic layers; SIMS; XPS
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-388656
URL:http://www.euramet.org/metrology-for-societys-challenges/metrology-for-industry/impact-case-studies-emrp-industry-theme/
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoAllgemeines Deutsches Urheberrecht
Datum der Freischaltung:03.01.2017
Referierte Publikation:Nein
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