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Methods for simultaneous measurements of topography and local electrical properties using scanning force microscopy

  • Two different approaches to investigate the local complex conductivity and the surface charge with Scanning Force Microscopy (SFM) techniques are presented. It is shown that the measurement of local electrical properties with SFM leads to interesting information about the composition of electrically heterogeneous surfaces

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Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD, Wolfgang Stark, V. Bovtun, Eckhard Schulz
Persönliche Herausgeber*innen:Z. Xia
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 9th International Symposium on Electrets
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Herausgeber (Institution):Dielectrics and Electrical Insulation Society
Verlag:IEEE Service Center
Verlagsort:Piscataway, NJ
Erste Seite:223
Letzte Seite:228
Veranstaltung:9th International Symposium on Electrets (ISE 9)
Veranstaltungsort:Shanghai, China
Beginndatum der Veranstaltung:1996-09-25
Enddatum der Veranstaltung:1996-09-30
DOI:10.1109/ISE.1996.578073
ISBN:0-7803-2695-4
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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